Probenvorbereitung für REM/TEM

Ionenfräsgeräte

Technoorg Linda
Polieren/Querschneiden für SEM/TEM

Für REM-Benutzer:

SEMPrep Smart

Ionenätzsystem der neuen Generation für Querschnittsschnitte und beschädigungsfreies Polieren der Probenoberfläche für SEM- und EBSD-Anwender

  • Einfacher und automatisierter Betrieb
  • Größter Energiebereich auf dem Markt (<100 eV-16 keV)
  • Einzigartige vorgekippte Probenhalter für Schrägschnitte (30°, 90°)
  • +/- 1 µm Positioniergenauigkeit für den Querschnitt
  • Probengröße bis zu 50 mm Durchmesser
  • Ladungssicherungssystem für schnellen Probenaustausch
  • Optionale Vakuumtransfereinheit
  • Flüssigstickstoff oder Peltier-Kühlung als Option
  • Ölfreies Vakuumsystem

Für TEM-Benutzer:

UniMill

Vollautomatisches Ionenstrahl-Dünnungssystem für die TEM/XTEM-Probenvorbereitung

  • Einfacher und automatisierter Betrieb
  • Größter Energiebereich auf dem Markt (100 eV - 16 keV)
  • Automatischer Perforationsdetektor
  • Load-Lock-System für schnellen Probenaustausch
  • Option Flüssigstickstoffkühlung
  • Online-Überwachung und -Support

Sanfte Mühle

Ionenstrahl-Workstation für die Endreinigung und Endpolitur von TEM/FIB-Proben höchster Qualität

  • Automatisierter Betrieb
  • Der letzte Schritt für ein perfektes Ergebnis
  • Vakuum-Transfer-Shuttle
  • Spezialadapter für Hitachi-Mikroskope
  • Online-Überwachung und -Support

MAG*I*CAL
Rückführbare Transmissions-Elektronenmikroskopie-Kalibrierungsprobe

TiDisc
Spezielles Einbettungsgitter für TEM/XTEM-Proben

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