Microcopie a sonde locale
Microscopie a sonde locale à balayage est apparue au début des années 1980 avec l'invention du microscope à effet tunnel (STM) par Gerd Binnig et Heinrich Rohrer à IBM Zurich en 1981.
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Qu'est-ce que la microscopie à sonde microscopie à balayage ?
Microscopie a sonde locale à balayage est apparue au début des années 1980 avec l'invention du microscope à effet tunnel (STM) par Gerd Binnig et Heinrich Rohrer à IBM Zurich en 1981.
Le STM a permis l'imagerie à l'échelle atomique en mesurant le courant tunnel, ce qui leur a valu le prix Nobel de physique en 1986. Sur cette base, le microscope à force atomique (AFM) a été introduit en 1986, permettant l'imagerie de matériaux isolants par des mesures de force.
Depuis lors, les techniques de champ proche se sont étendues à la microscopie à force magnétique (MFM), à la microscopie à force électrostatique (EFM), à la microscopie à force de sonde de Kelvin (KPFM), à l'AFM conducteur (C-AFM), à la microscopie à capacité de balayage (SCM), et à d'autres encore.
Les progrès technologiques constants ont fait de la microcopie a sonde locale une technique avancée essentielle dans la recherche quantique, la physique et la chimie des surfaces, la nanotechnologie et les nouveaux matériaux pour la recherche fondamentale et les innovations.
Image reproduite avec l'aimable autorisation du Prof. Dr. Hans-Peter Steinrück, FAU Erlangen-Nürnberg, DOI :10.1021/acs.jpcc.1c00746
