Les Journées Découverte SEM 2025 se sont achevées après une série d'événements passionnants organisés en Allemagne, en Autriche et en Belgique, qui ont permis aux chercheurs, aux ingénieurs et aux spécialistes des matériaux d'accéder directement à la technologie de pointe en matière de microscopie électronique à balayage (MEB).
Le concept de cette année s'est appuyé sur le succès du Phenom SEM Tour 2024 - combinant démonstrations en direct, analyse d'un échantillon réelet conférences animées par des experts en un seul programme compact et pratique.
Explorer les dernières technologies SEM
Cet événement a rassemblé des responsables de la qualité, des professionnels de laboratoire, des ingénieurs et des décideurs unis par un objectif commun : explorer comment la microscopie rapide et fiable peut améliorer leur travail quotidien.
Les participants ont eu l'occasion de travailler sur le terrain avec Phenom XL G2 de Thermo Fisher Scientific et Phenom ProX G6 Les chercheurs de l'Institut de recherche en sciences de l'environnement de l'Université d'Anvers ont pu constater par eux-mêmes que l'analyse EDS intégrée permettait une identification rapide et précise des matériaux.
De la détection de l'amiante à l'analyse de la taille des particules en passant par l'inspection de la surface des plaquettes, les participants ont pu voir comment le MEB peut résoudre les problèmes analytiques du monde réel.
L'une des caractéristiques uniques de l'événement était la possibilité d'apporter et d'analyser des échantillons du monde réel sur place, avec l'aide directe de spécialistes des applications. Cette approche personnalisée a permis à chaque participant de repartir avec des informations exploitables et adaptées à son propre travail.
Marques et technologies présentées
Les Journées de découverte du SEM ne seraient pas complètes sans un regard sur les innovations permettant une imagerie et une préparation de haute qualité du SEM :
- Groupe ibss, Inc. - Nettoyage au plasma pour une imagerie sans contamination et une meilleure résolution
- Technoorg Linda Co. Ltd. - Technologie de faisceau ionique de précision pour la coupe transversale et le polissage des échantillons
- RMC Boeckeler Instruments, Inc. - Microtomes et ultramicrotomes de haute précision pour la préparation d'échantillons SEM/TEM
- LUXOR SEM COATING - Solutions faciles de revêtement or/platine et carbone pour une meilleure qualité d'image
Ces technologies complémentaires ont montré comment l'efficacité, la précision et la clarté de l'image peuvent être améliorées grâce aux outils de préparation appropriés. Nous remercions tous nos partenaires, présentateurs et participants d'avoir fait de cet événement un tel succès et nous attendons déjà avec impatience la prochaine édition.
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