Schaefer Scientific a le plaisir d'annoncer le RHK PanScan Freedom II, un système de microscopie à sonde à balayage (SPM) sans cryogène de nouvelle génération conçu pour la recherche avancée dans les domaines des matériaux quantiques, des nanosciences et de la science des surfaces.
Le PanScan Freedom II établit une nouvelle norme pour les expériences STM et AFM à basse température en combinant un fonctionnement à très basse température, une capacité de champ magnétique élevé et une accessibilité optique exceptionnelle dans une seule plate-forme AFM/STM cryogénique UHV. Ce système innovant permet aux chercheurs d'obtenir des performances expérimentales au niveau de l'hélium sans les défis opérationnels associés aux cryostats à hélium liquide.
Performance SPM à basse température sans cryogène
Au cœur du PanScan Freedom II se trouve une plateforme SPM basse température sans cryogène extrêmement stable, capable d'atteindre des températures de base jusqu'à 5 K. Le système intègre un aimant supraconducteur sans cryogène de 7 Tesla, permettant des expériences dépendant du champ magnétique sans interruption due à des recharges d'hélium.
Pour les laboratoires qui étudient les matériaux quantiques, les systèmes électroniques corrélés et les phénomènes électroniques à l'échelle nanométrique, cette approche offre les performances expérimentales des systèmes cryogéniques traditionnels tout en simplifiant considérablement le fonctionnement du laboratoire.
Accès optique pour les expériences avancées à l'échelle nanométrique
L'une des caractéristiques du PanScan Freedom II est son accès optique sans obstacle à l'intérieur de l'environnement de l'aimant. Cette conception unique permet aux chercheurs de combiner la microscopie à sonde à balayage avec des techniques de spectroscopie optique.
Avec le système optique à haut rendement Lumin en option, la plateforme offre :
- Efficacité de collecte de la lumière supérieure à 70%
- Accès optique à large bande de l'IR lointain à l'UV profond
- Compatibilité avec la spectroscopie Raman, la photoluminescence (PL), la luminescence induite par STM et la cathodoluminescence
Ces capacités font de ce système un outil idéal pour étudier les interactions lumière-matière et les nanostructures optiquement actives à l'échelle nanométrique.
Mesures AFM et STM flexibles en UHV
Le PanScan Freedom II prend en charge les modes de balayage de sonde et de balayage d'échantillon, ce qui permet aux chercheurs d'adapter le système à différentes exigences expérimentales. Le balayage de la sonde permet d'effectuer des mesures STM et AFM à très haute résolution, tandis que le module optionnel de balayage de l'échantillon permet d'élargir les plages de balayage tout en conservant un alignement précis de la sonde et un accès optique.
Cette polyvalence fait de ce système une solution puissante pour les expériences de microscopie à balayage UHV à des températures cryogéniques.
Applications
Le PanScan Freedom II est conçu pour les domaines de recherche avancés, notamment :
- Matériaux quantiques et systèmes électroniques corrélés
- Expériences STM et AFM à basse température
- Science des surfaces UHV
- Nanostructures optiquement actives
- Études sur l'interaction lumière-matière
- Spectroscopie à l'échelle nanométrique dépendant du champ magnétique
En savoir plus sur les systèmes AFM/STM cryogéniques UHV
Plus d'informations sur Têtes et systèmes de balayage AFM et STM cryogéniques UHV disponible auprès de Schaefer Scientific est disponible ici : https://schaefer-scientific.com/product/uhv-cryogenic-afm-stm-scan-heads-and-systems
Les chercheurs souhaitant discuter des exigences expérimentales ou des configurations du système sont invités à contacter l'équipe de Schaefer Scientific.
