Park Systems fournit des solutions avancées de métrologie à l'échelle nanométrique pour la recherche et les applications industrielles.
Découvrez la gamme complète de microscopes à force atomique de Park Systems conçus pour la recherche scientifique et technique.
L'intégration du logiciel Smart Scan, un système d'exploitation basé sur l'intelligence artificielle, simplifie le fonctionnement de l'AFM, le rendant facilement navigable pour les novices comme pour les experts. Cet amalgame de caractéristiques avancées définit la fiabilité, la précision et la facilité d'utilisation inhérentes à tous les AFM de Park.
Petits échantillons AFM
Park NX10 - le premier choix pour la recherche en nanotechnologie
Le remplacement facile de la pointe du Park NX10, combiné à l'imagerie en un clic du logiciel SmartScan et aux modes avancés préprogrammés, permet aux AFM de Park de se démarquer.
- Précision inégalée et imagerie à haute résolution avec un niveau de bruit très faible.
- Configuration motorisée, avec un mécanisme de remplacement facile de l'embout et de l'échantillon et une approche automatique rapide de l'embout qui ne nécessite aucune intervention de l'utilisateur
- L'imagerie topographique et la caractérisation des propriétés électriques, magnétiques, thermiques et mécaniques à l'échelle nanométrique font du modèle Park NX10 le premier choix pour la recherche de pointe en science des matériaux.
- Conçu pour l'analyse électrochimique
Park FX40 - L'AFM automatique
L'intelligence intégrée et la robotique automatisent les tâches d'installation et de numérisation, ce qui permet aux utilisateurs de se concentrer sur leur travail spécialisé.
- Positionnement automatique de l'échantillon, lecture automatique de la sonde, remplacement automatique de la sonde, alignement automatique du faisceau
- Caractéristiques de sécurité : Atterrissage avec sonde de sécurité, surveillance de l'environnement en temps réel, détection automatique des alertes.
- Gamme complète de modes AFM pour diverses applications
- Meilleur AFM dans une boîte à gants
Park NX7 A- le choix abordable
Conçu avec le même souci du détail, NX7 vous permet d'effectuer vos recherches dans les délais et le budget impartis.
- Précision inégalée et imagerie à haute résolution avec un niveau de bruit très faible.
- Gamme complète de modes AFM pour diverses applications
- Accès ouvert flexible, personnalisable pour coopérer avec divers environnements de recherche
- Des analyses nanomécaniques, électriques, magnétiques, chimiques, thermiques et dans les liquides sont disponibles.
Grands échantillons AFM
Les modèles polyvalents AFM de Park Systems prennent en charge la conception, la détection des défauts et le contrôle de la qualité dans diverses applications et budgets de semi-conducteurs, permettant une caractérisation et une optimisation des processus plus rapides et plus précises.
Parc NX20
C'est la solution idéale pour l'analyse des défaillances et la métrologie des semi-conducteurs. Park NX20 possède l'une des conceptions les plus conviviales et l'une des interfaces les plus automatisées de l'industrie.
- Mesures des flancs pour l'étude de la structure en 3D
- Mode de balayage électrique haute résolution
- Automatisation du balayage par étapes, un système d'imagerie à régions multiples programmable par l'utilisateur
- Gamme complète de modes AFM pour diverses applications
Park NX20 300mm
C'est le premier choix pour l'inspection AFM de grands échantillons, spécialement conçu pour l'analyse des défaillances, l'assurance qualité et le contrôle qualité des applications de semi-conducteurs, permettant l'inspection efficace de tranches entières de 300 mm.
- Précision inégalée et imagerie à haute résolution avec un niveau de bruit très faible.
- Platine XY motorisée de 300 mm
- Logiciel d'exploitation Smart Scan - logiciel d'automatisation
- Automatisation du balayage par étapes, un système d'imagerie à régions multiples programmable par l'utilisateur
Gamme complète de modes AFM pour diverses applications
Parc FX200
Choix idéal pour les applications industrielles et de recherche, le FX200 établit une nouvelle norme en matière de précision et de fiabilité. Son servo Z plus rapide et sa vision améliorée de l'échantillon à haute puissance renforcent l'efficacité opérationnelle et les capacités d'imagerie.
- Automatisation intelligente : reconnaissance et échange automatiques de la sonde, alignement du faisceau laser et macro-optique pour une vue complète de l'échantillon, autofocus optique, navigation et mesures séquentielles à des coordonnées multiples.
- Contrôleur AFM de nouvelle génération
- Accepte des gaufres de différentes tailles, y compris des gaufres de 200 mm.
- Peut contenir simultanément jusqu'à 16 échantillons de la taille d'un coupon
- Gamme complète de modes AFM pour diverses applications
Parc FX300
Conçu pour briser les frontières entre la recherche et les applications industrielles avec des capacités avancées pour les applications AFM industrielles et de recherche.
- Capable de mesurer des plaquettes jusqu'à 300 mm, il prend en charge une large gamme d'applications AFM avancées, y compris le système de mesure de l'humidité de l'air disponible en option. nano-IR technologie
- Contrôleur AFM de nouvelle génération
- Permet des réglages de coordonnées prédéfinis sur des échantillons de grande taille, tels que des plaquettes de 300 mm ou des échantillons sur des mandrins à échantillons multiples, pour une exécution automatisée.
- Peut contenir simultanément jusqu'à 16 échantillons de la taille d'un coupon
- Il prend en charge les mesures séquentielles, y compris la topographie et les modes avancés, et rationalise les flux de travail dans les environnements de recherche et industriels.
Park nano IR AFM
Spectroscopie IR intégrée à l'échelle nanométrique pour une analyse chimique précise, en incorporant la dernière spectroscopie infrarouge - la microscopie à force induite par la photo (PiFM) - à la plateforme AFM Park, leader du secteur. Mesures polyvalentes d'échantillons de petite taille jusqu'à des plaquettes de 300 mm
- Offre une résolution spatiale supérieure à celle de la spectroscopie IR conventionnelle et d'autres techniques à l'échelle nanométrique, tout en garantissant une résolution élevée et une précision de mesure constantes tout au long de l'analyse.
- Contrôleur AFM de nouvelle génération
- L'intégration des techniques de bande latérale permet de détecter des informations subtiles sur la liaison moléculaire, avec des aperçus sensibles à la profondeur grâce à des méthodes de détection bimodales à entraînement direct et à bande latérale.
- Technologie de pointe PiFM, une technique de détection sans contact qui garantit des résultats plus précis et plus cohérents tout en protégeant les échantillons délicats.
- Spectres IR à haute résolution et images d'absorption IR à l'échelle nanométrique avec une excellente corrélation avec la spectroscopie FTIR (Fourier Transform Infrared) conventionnelle.
GFA spécialisés
Parc NX12
Idéal pour les installations multi-utilisateurs desservant un large éventail de disciplines de recherche. La plateforme adaptable couvre un large éventail d'applications, de la cartographie nanomécanique à la microscopie à conductance ionique à balayage, en passant par la microscopie optique inversée et la recherche en électrochimie.
- Il comprend un système de balayage basé sur des pipettes pour la microscopie de conductance ionique à balayage (SICM), la microscopie électrochimique à balayage (SECM) et la microscopie cellulaire électrochimique à balayage (SECCM) à haute résolution.
- S'adapte à l'AFM ambiant standard, au SPM en milieu liquide, à l'imagerie optique et nano-optique.
- Parfait pour les études de cellules vivantes avec AFM et SICM
- Permet l'étude des propriétés électrochimiques
Park NX Hivac
NX Hivac est un AFM sous vide poussé idéal pour l'analyse précise des défaillances des semi-conducteurs et la recherche sur les matériaux sensibles. Fonctionnant dans un environnement de vide poussé, NX Hivac est la clé d'une série d'applications, notamment l'évaluation de la concentration de dopants à l'aide de la microscopie de résistance à l'étalement par balayage (SSRM).
- Avec son propre Hivac Manager intuitif et le contrôle automatique du vide
- Permet la recherche scientifique sur les matériaux qui nécessite des mesures de haute précision et de haute résolution dans un environnement sous vide exempt d'oxygène et d'autres agents.
- Automatisation du balayage à l'aide d'une platine motorisée
- Capteurs de position XYZ à faible bruit
Schaefer SouthEast Europe srl - le distributeur régional exclusif depuis 2008 pour les AFM de Park Systems (Grèce, Roumanie, Slovénie, Croatie, sud de Chypre, Bulgarie, Hongrie, Moldavie, Serbie).
Fournit une assistance avancée pour les applications, l'installation, la formation et l'assistance après la formation, grâce à des spécialistes expérimentés de l'AFM.
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