Phenom Desktop SEM

PHENOM PRO, ProX (350 000x, résolution <8nm, analyse élémentaire EDX)

• Excellente qualité d'image grâce au CeB₆ source à haute brillance à des tensions d'accélération faibles
• Environ 1500 heures de fonctionnement de la source (4-6 ans d'utilisation typique)
• Grossissement jusqu'à 350 000x (plus zoom numérique 12x)
• Tension d'accélération variable (pour ProX et XL)
• Analyse élémentaire EDX (en option pour Phenom Pro et Pure)
• Détecteur SED en option
• Préparation rapide des échantillons
• Transfert d'échantillons facile et rapide (10-15 secondes)
• Navigation intuitive
• Platine motorisée de précision XY
• Caméra CCD couleur avec zoom 20x à 120x (Pro et ProX)
• Construction robuste et peu encombrante ; fonctionnement simple
• En option : Reconstruction 3D, mesure de la rugosité de surface, couture et mesure automatique des sections transversales des fibres.

Logiciel ParticleMetric (Mesure des particules)

Phenom XL G2 (200 000 x, résolution <9nm avec analyse élémentaire EDX et détecteur SE en option)

• Excellente qualité d'image grâce au CeB₆ source à haute brillance à des tensions d'accélération faibles
• Environ 3000 heures de fonctionnement de la source (4-6 ans d'utilisation typique)
• Grossissement jusqu'à 200 000x (plus zoom numérique 12x)
• Tension d'accélération variable 2 - 20,5 kV
• Détecteur EDX d'opium (25 & 70 mm²)
• Détecteur SED en option
• Préparation rapide des échantillons
• Transfert d'échantillons facile et rapide (30-40 secondes)
• Navigation intuitive
• Platine 5 axes en option (XYZTR)
• Construction robuste et peu encombrante ; fonctionnement simple
• En option : Reconstruction 3D, mesure de la rugosité de la surface, assemblage et mesure automatique de l'analyse des filtres d'amiante.

Logiciel ParticleMetric (Mesure des particules)

Phenom Pharos G2 FEG-SEM (2 000 000 x, résolution de 2 nm avec analyse élémentaire EDX et détecteur SE en option)

• Cathode à émission de champ avec une excellente résolution de 2 nm
• COMPÉTITIF AVEC LES MODÈLES DE SOL
• Mode vide poussé
• Mode de vide moyen
• Réduction de charge intégrée (mode faible vide)
• Standard : 5/10/15/20 kV utilisation facile
• Mode étendu : réglable entre 1 kV et 20 kV
• Détecteur d'électrons rétrodiffusés (standard)
• Détecteur pour la spectroscopie X à dispersion d'énergie (EDS/EDX) (en option)
• Détecteur d'électrons secondaires (Everhart Thornley - en option)
• Taille de l'échantillon jusqu'à 25 mm de diamètre (32 mm en option)
• Hauteur de l'échantillon jusqu'à 35 mm (100 mm en option)

Phenom GSR (résidus de tir, compatible ASTM E1588-17)

• Taille de l'échantillon max. 100 mm x 100 mm (jusqu'à 30 x 12 mm Pin Stubs), max. 40 mm (hauteur)
• Spécifications du logiciel :
  • Conforme à la norme ASTM E1588-17
  • Correspondance typiquement ≥ 98 % avec les échantillons standardisés Plano-GSR
  • Soutien à la classification des types de munitions sans plomb
  • Etalonnage automatique pour des résultats reproductibles
• Types de détecteurs
  • Détecteur de silicium (SDD)
  • Refroidissement par effet Peltier (LN₂-frei)
• Reporting-Workflow : Dérive des particules, système de rapport convivial
• Mode d'acquisition : 316 (L) x 587 (L) x 625 (H) mm

Phenom ParticleX (200 000 x, résolution <10nm, analyse élémentaire EDX et SED en option)

• Excellente solution pour un système fiable ANALYSE DES MATÉRIAUX, par exemple pour INDUSTRIE AUTOMOBILE
• Contrôle de la pureté technique à l'échelle micrométrique grâce à Analyse EDX
• Tensions d'accélération :
  • Standard : 5 kV, 10 kV et 15 kV (mode élargi : plage réglable entre 4,8 kV et 20,5 kV)
• Niveaux de vide
  • Faible
  • Moyen
  • Haut
• Détecteurs :
  • Détecteur d'électrons rétrodiffusés (standard)
  • Détecteur pour la spectroscopie X à dispersion d'énergie (EDS) (standard)
  • Détecteur d'électrons secondaires (détecteur Everhart-Thornley, en option)
• Taille de l'échantillon :
  • max. 100 mm x 100 mm (jusqu'à 36 x 12 mm)
  • max. 40 mm (h)
• Temps de transfert exemplaire
  • Lumière-optique <5 s
  • SEM <60 s

Axia ChemiSEM (résolution polaroïd 1 000 000x, résolution jusqu'à 3 nm, idéal pour l'analyse EDX)

• Modèle de demi-étage
• Facilité d'entretien (la source peut être facilement remplacée par l'utilisateur)
• Détecteur de rétrodiffusion motorisé et rétractable
• Détecteur EDS TrueSight
• Caméra Nav-Cam - caméra optique couleur pour la navigation par échantillonnage
• Interface utilisateur manuelle
• Caméra anti-intrusion
• Logiciel Maps pour le pavage et l'assemblage des images
• Résolution du faisceau d'électrons :
  • 3,0 nm à 30 kV (SE)
  • 3,0 nm à 30 kV (SE) (faible vide)
  • 8,0 nm à 3 kV (SE)
  • 7,0 nm à 3 kV (BD-Modus* + BSE)
• Chambre :
  • largeur intérieure : 280 mm
• Contacts : un microscope électronique à balayage Axia ChemiSEM avec BSED et EDS offre 5 ports disponibles
• Stade :
  • xy : 120 x 120 mm
  • Inclinaison : -15 bis +90 Grad
  • Rotation : n x 360
  • Avec l'axe ZTR retiré :
    • Max. Hauteur de l'échantillon : 128 mm
    • Poids max. de l'échantillon : 10 kg Poids de l'échantillon : 10 kg
• Options typiques
  • Mode de décélération du faisceau
  • CleanHeater pour Stage (jusqu'à 1.100 °C)
  • Détecteur de luminescence à cathode
  • Logiciel AutoScript 4 - Interface de programmation d'applications basée sur Python
  • Thermo Scientific TopoMaps Software pour la coloration et l'analyse d'images et la reconstruction de surfaces en 3D

Applications

• Industrie pharmaceutique
• poudre
• Mesure de la taille des particules
• Nanoparticules
• Analyse métallurgique
• Contrôle des processus
• Contrôle de la qualité
• Laboratoires de recherche
• Fibermetric pour l'analyse des fibres textiles
• Analyse de l'amiante selon la norme VDI 3492 (avec le logiciel AsbestosScan)
• Pureté technique selon VDA19 / ISO16232
• Fabrication additive (contrôle de la qualité)
• SEM de table, microscope électronique de table, SEM de table
• EDX, EDS