Raster Sonden Mikroskopie

Modularer SPM-Elektronik und -Software

RHK Technology
SPM-Scan-Köpfe

R10: Von Bits zu Bonds - Eine fortschittliche SPM-Plattform

RHK Technology präsentiert den R10-Controller, eine fortschrittliche Plattform für die Rastersondenmikroskopie (SPM), die für leistungsstarke Bildgebung, Spektroskopie und kraftbasierte Experimente entwickelt wurde. Er kombiniert zeitbasierte Datenerfassung mit einer vollständig digitalen AFM/STM-Architektur und einer leistungsstarken FPGA-basierten Signalverarbeitung, um einen flexiblen Betrieb mit mehreren Sonden und mehreren Frequenzen sowie komplexe Messabläufe zu ermöglichen.

Die verbesserte Hard- und Softwarearchitektur steigert Leistung, Bandbreite und Datendurchsatz bei gleichzeitiger Gewährleistung langfristiger Kompatibilität durch eine modulare, aufrüstbare Struktur. Ein plattformunabhängiges Inventor SDK mit Unterstützung für Python, Matlab oder Labview ermöglicht automatisierte Workflows und durch maschinelles Lernen gesteuerte Upgrade-Pfade.

Diese Fähigkeiten ermöglichen Untersuchungen im Quantenmaßstab, einschließlich Rastertunnelmikroskopie, Manipulation von Einzelatomen oder Einzelmolekülen sowie Spin- oder ladungsempfindliche Messungen. Ergänzende fortschrittliche AFM-Modalitäten – wie Multifrequenz-AFM, KPFM, MFM und zeitaufgelöste AFM – erweitern die Reichweite des Systems auf elektrische, magnetische und dynamische Charakterisierungen im Nanomaßstab. Zusammen unterstützen sie die Untersuchung von Quantenmaterialien, Qubitsystemen sowie Transport- und Kohärenzphänomenen im atomaren Maßstab.

Das System wird durch eine intuitive Steuerungsumgebung ergänzt, die dafür konzipiert ist, einen stabilen, effizienten und reproduzierbaren experimentellen Betrieb über eine Vielzahl von Anwendungen hinweg zu gewährleisten.

R10 Kerntechnologien

  • FPGA-basierte Echtzeitverarbeitung
  • Vollständig digitale Signalverarbeitung (FPGA)
  • Hochauflösende AD/DA-Wandlung
  • Zeitbasierte Datenerfassung
  • Intern integrierte LIAs und PLLs
  • Modulare Hardware/Software-Architektur
  • Kompatibel mit jeder SPM

R10 Hauptmerkmale

  • Reagiert innerhalb von 5 μs auf einen Signalauslösepegel
  • Schnelles Scannen und Spektroskopie
  • Umfassende Kanalunterstützung
  • Umfassendes Signalrouting und -überwachung
  • Inventor SDK
  • Schnittstelle zu LabVIEW VIs, Matlab, Python usw.
  • Benutzerkonfigurierbare Verfahren

Für weitere Informationen besuchen Sie uns: https://www.rhk-tech.com/r10/

Laden Sie unser kostenloses Poster herunter: “R10: Von Bits zu Bindungen – Eine fortschrittliche SPM-Plattform”

Schaefer Scientific Poster – R10 Von Bits zu Bindungen – Eine fortschrittliche SPM-Plattform

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