Rastersondenmikroskopie

Die Rastersondenmikroskopie (SPM) entstand in den frühen 1980er Jahren mit der Erfindung des Rastertunnelmikroskops (STM) durch Gerd Binnig und Heinrich Rohrer bei IBM Zürich im Jahr 1981. 

Das STM ermöglichte die Abbildung auf atomarer Ebene durch Messung des Tunnelstroms und brachte ihnen 1986 den Nobelpreis für Physik ein. Darauf aufbauend wurde 1986 das Rasterkraftmikroskop (AFM) eingeführt, das die Abbildung von isolierenden Materialien durch Kraftmessungen ermöglichte. 

Seitdem haben sich die SPM-Techniken um die Magnetkraftmikroskopie (MFM), die elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), die Kelvinsonden-Kraftmikroskopie (KPFM), die leitende AFM (C-AFM), die Rasterkapazitätsmikroskopie (SCM) und andere erweitert. 

Der ständige technologische Fortschritt hat die SPM zu einer wesentlichen fortschrittlichen Technik in der Quantenforschung, der Oberflächenphysik und -chemie, der Nanotechnologie und bei neuen Materialien für die Grundlagenforschung und Innovationen gemacht.