Phenom Desktop REM

PHENOM PRO, ProX (350.000x, <8nm Auflösung, EDX-Elementaranalyse)

• Ausgezeichnete Bildqualität dank der CeB₆ Quelle mit hoher Brillanz bei niedrigen Beschleunigungsspannungen
• Ca. 1500 Betriebsstunden der Quelle (4-6 Jahre bei typischer Nutzung)
• Vergrößerung bis zu 350.000x (plus 12x Digitalzoom)
• Variable Beschleunigungsspannung (für ProX und XL)
• EDX-Elementaranalyse (optional für Phenom Pro und Pure)
• Optionaler SE-Detector
• Schnelle Probenvorbereitung
• Einfacher und schneller Probentransfer (10-15 Sekunden)
• Intuitive Navigation
• Motorisierter Präzisions-XY-Tisch
• Farb-CCD-Kamera inkl. Zoom 20x bis 120x (Pro und ProX)
• Robuste, platzsparende Konstruktion; einfache Bedienung
• Als Optionen: 3D-Rekonstruktion, Oberflächenrauhigkeitsmessung, Stitching und automatische Messung von Faserquerschnitten.

ParticleMetric Software (Partikelmessung)

Phenom XL G2(200.000 x, <9nm Auflösung mit optionaler EDX-Elementaranalyse und SE-Detektor)

• Ausgezeichnete Bildqualität dank der CeB₆ Quelle mit hoher Brillanz bei niedrigen Beschleunigungsspannungen
• Ca. 3000 Betriebsstunden der Quelle (4-6 Jahre bei typischer Nutzung)
• Vergrößerung bis zu 200.000x (plus 12x Digitalzoom)
• Variable Beschleunigungsspannung 2 - 20,5 kV
• Opional EDS-Detektor (25 & 70 mm²)
• Optionaler SE-Detector
• Schnelle Probenvorbereitung
• Einfacher und schneller Probentransfer (30-40 Sekunden)
• Intuitive Navigation
• Optionaler 5-Achsen-Tisch (XYZTR)
• Robuste, platzsparende Konstruktion; einfache Bedienung
• Als Optionen: 3D-Rekonstruktion, Oberflächenrauhigkeitsmessung, Stitching und automatische Messung der Asbestfilteranalyse.

ParticleMetric Software (Partikelmessung)

Phenom Pharos G2 FEG-SEM (2.000.000 x, 2nm Auflösung mit optionaler EDX-Elementaranalyse und SE-Detektor)

• Feldemissionskathode mit exzellenter 2nm Auflösung
• WETTBEWERBSFÄHIG MIT BODENMODELLEN
• Hochvakuum-Modus
• Medium-Vakuum-Modus
• Integrierte Ladungsreduzierung (Niedervakuum-Modus)
• Standard: 5/10/15/20 kV einfache Anwendung
• Erweiterter Modus: einstellbar zwischen 1 kV und 20 kV
• Rückstreuelektronen-Detektor (Standard)
• Detektor für energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) (optional)
• Sekundärelektronendetektor (Everhart Thornley-optional)
• Probengröße bis zu 25 mm Durchmesser (32 mm optional)
• Probenhöhe bis zu 35 mm (100 mm optional)

Phenom GSR (Gun Shot Residue, ASTM E1588-17 kompatibel)

• Probengröße max. 100 mm x 100 mm (bis zu 30 x 12 mm Pin Stubs), max. 40 mm (Höhe)
• Software-Spezifikationen:
  • Entspricht der ASTM E1588-17
  • Typischerweise ≥ 98 % Übereinstimmung mit standardisierten Plano-GSR-Proben
  • Unterstützt die Klassifizierung von bleifreier Munition
  • Automatische Kalibrierung für reproduzierbare Ergebnisse
• Detektortypen
  • Silizium-Drift-Detektor (SDD)
  • Peltier-Kühlung (LN₂-frei)
• Berichterstattungs-Workflow: Partikeldrift, benutzerfreundliches Berichtssystem
• Aufnahmemodus: 316 (B) x 587 (L) x 625 (H) mm

Phenom ParticleX (200.000 x, <10nm Auflösung, EDX Elementaranalyse und SED als Option)

• Hervorragende Lösung für zuverlässige MATERIALANALYSEz.B. für AUTOMOBILBRANCHE
• Technische Reinheitskontrolle auf der Mikrometerskala dank EDS-Analyse
• Beschleunigungsspannungen:
  • Standard: 5 kV, 10 kV und 15 kV (erweiterter Modus: einstellbarer Bereich zwischen 4,8 kV und 20,5 kV)
• Vakuumwerte
  • Niedrig
  • Mittel
  • Hoch
• Detektoren:
  • Backscattered-Elektronendetektor (Standard)
  • Detektor für energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) (Standard)
  • Sekundärelektronendetektor (Everhart-Thornley-Detektor, optional)
• Größe der Stichprobe:
  • max. 100 mm x 100 mm (bis zu 36 x 12 mm Stummel)
  • max. 40 mm (h)
• Exemplarische Übertragungszeit
  • Licht-optisch <5 s
  • SEM <60 s

Axia ChemiSEM (1.000.000x Polaroid-Auflösung, bis zu 3 nm Auflösung, ideal für EDX-Analyse)

• Semi-Floor-Modell
• Wartungsfreundlich (die Quelle kann vom Benutzer leicht ausgetauscht werden)
• Motorisierter, einziehbarer Rückstreudetektor
• TrueSight EDS-Detektor
• Nav-Cam Kamera - optische Farbkamera für die Beispielnavigation
• Manuelle Benutzeroberfläche
• IR-Kammer-Kamera
• Kartensoftware zum Kacheln und Zusammenfügen der Bilder
• Auflösung des Elektronenstrahls:
  • 3,0 nm bei 30 kV (SE)
  • 3,0 nm bei 30 kV (SE) (Niedervakuum)
  • 8,0 nm bei 3 kV (SE)
  • 7,0 nm bei 3 kV (BD-Modus* + BSE)
• Kammer:
  • Innere Breite: 280 mm
• Kontakte: ein Axia ChemiSEM Rasterelektronenmikroskop mit BSED und EDS bietet 5 verfügbare Anschlüsse
• Bühne:
  • xy: 120 x 120 mm
  • Neigung: -15 bis +90 Grad
  • Drehung: n x 360°
  • Mit entfernter ZTR-Achse:
    • Max. Höhe der Probe: 128 mm
    • Max. Gewicht der Probe: 10 kg
• Typische Optionen
  • Strahlverzögerungsmodus
  • CleanHeater für Bühne (bis zu 1.100 °C)
  • Kathoden-Lumineszenz-Detektor
  • AutoScript 4 Software - Python-basierte Schnittstelle zur Anwendungsprogrammierung
  • Thermo Scientific TopoMaps Software für Bildfärbung, Bildanalyse und 3D-Oberflächenrekonstruktion

Anwendungen

• Pharmazeutische Industrie
• Pulver
• Messung der Partikelgröße
• Nanopartikel
• Metallurgische Analyse
• Prozesskontrolle
• Qualitätskontrolle
• Forschungslaboratorien
• Fibermetric für die Analyse von Textilfasern
• Asbestanalyse nach VDI 3492 (mit AsbestosScan Software)
• Technische Reinheit nach VDA19 / ISO16232
• Additive Fertigung (Qualitätskontrolle)
• Tisch-SEM, Tisch-Elektronenmikroskop, Tabletop-SEM
• EDS