Park Systems bietet fortschrittliche Lösungen für die Nanomessung sowohl für die Forschung als auch für industrielle Anwendungen.
Entdecken Sie die gesamte Palette der Rasterkraftmikroskope von Park Systems für die wissenschaftliche und technische Forschung.
Die integrierte Smart Scan-Software, ein KI-gestütztes Betriebssystem, vereinfacht die Bedienung des AFM und macht es für Anfänger und Experten gleichermaßen mühelos bedienbar. Diese Kombination fortschrittlicher Funktionen definiert die Zuverlässigkeit, Präzision und Benutzerfreundlichkeit aller AFMs von Park.
AFMs für kleine Proben
Park NX10 - erste Wahl für die Nanotechnologieforschung
Der einfache Spitzenwechsel des Park NX10 in Kombination mit der SmartScan-Software, die eine Bildgebung mit nur einem Klick ermöglicht, und den vorprogrammierten erweiterten Modi zeichnen die AFMs von Park aus.
- Unerreichte Genauigkeit und hochauflösende Bildgebung mit branchenführendem geringem Rauschen
- Motorisierte Konfiguration mit einfachem Spitzen- und Probenwechselmechanismus und schneller automatischer Spitzenzuführung, die keinen Benutzereingriff erfordert
- Die topografische Bildgebung und die Charakterisierung elektrischer, magnetischer, thermischer und mechanischer Eigenschaften auf der Nanoskala machen das Modell Park NX10 zur ersten Wahl für die Spitzenforschung in der Materialwissenschaft
- Gebaut für elektrochemische Analysen
Park FX40 - Das automatische AFM
Integrierte Intelligenz und Robotik automatisieren Einrichtungs- und Scanaufgaben, so dass sich die Benutzer auf ihre spezielle Arbeit konzentrieren können
- Automatische Probenpositionierung, automatisches Einlesen der Sonde, automatischer Sondenwechsel, automatische Strahlausrichtung
- Sicherheitsmerkmale: Sicherheitssondenlandung, Echtzeit-Umgebungsüberwachung, automatische Warnerkennung
- Umfassende Auswahl an AFM-Modi für verschiedene Anwendungen
- Bestes AFM für die Arbeit im Handschuhfach
Park NX7 A - die erschwingliche Wahl
NX7 wurde mit der gleichen Liebe zum Detail entwickelt und ermöglicht es Ihnen, Ihre Recherchen zeit- und budgetgerecht durchzuführen.
- Unerreichte Genauigkeit und hochauflösende Bildgebung mit branchenführendem geringem Rauschen
- Umfassende Auswahl an AFM-Modi für verschiedene Anwendungen
- Flexibler Open-Access, anpassbar für die Zusammenarbeit mit verschiedenen Forschungsumgebungen
- Nanomechanische, elektrische, magnetische, chemische, thermische und Flüssigkeitsanalysen sind verfügbar.
AFMs für große Proben
Die vielseitigen AFM-Modelle von Park Systems unterstützen das Design, die Defekterkennung und die Qualitätskontrolle für verschiedene Halbleiteranwendungen und Budgets und ermöglichen eine schnellere und genauere Charakterisierung und Prozessoptimierung.
Park NX20
ist die beste Lösung für die Fehleranalyse und die Halbleitermetrologie. Park NX20 hat eines der benutzerfreundlichsten Designs und automatisierten Schnittstellen in der Branche
- Seitenwandmessungen für 3D-Strukturstudien
- Hochauflösender elektrischer Scan-Modus
- Step-Scan-Automatisierung, eine benutzerprogrammierbare Bildgebung für mehrere Regionen
- Umfassende Auswahl an AFM-Modi für verschiedene Anwendungen
Park NX20 300mm
ist die erste Wahl für die AFM-Prüfung großer Proben, die speziell auf die Fehleranalyse, Qualitätssicherung und Qualitätskontrolle von Halbleiteranwendungen zugeschnitten ist und die effiziente Prüfung ganzer 300-mm-Wafer ermöglicht
- Unerreichte Genauigkeit und hochauflösende Bildgebung mit branchenführendem geringem Rauschen
- 300mm motorisierter XY-Tisch
- Smart Scan Betriebssoftware-Automatisierungssoftware
- Step-Scan-Automatisierung, eine benutzerprogrammierbare Bildgebung für mehrere Regionen
Umfassende Auswahl an AFM-Modi für verschiedene Anwendungen
Park FX200
Das FX200 ist die ideale Wahl für Forschungs- und Industrieanwendungen und setzt neue Maßstäbe in Sachen Präzision und Zuverlässigkeit. Die schnellere Z-Servo-Leistung und die verbesserte High-Power-Probenansicht verbessern die Betriebseffizienz und die Abbildungsmöglichkeiten.
- Intelligente Automatisierung: automatische Sondenerkennung und Sondenwechsel, Laserstrahlausrichtung und Makro-Optik für vollständige Sicht auf die Probe, optischer Autofokus, Navigation und sequenzielle Messungen an mehreren Koordinaten
- AFM-Controller der nächsten Generation
- Geeignet für Wafer bis zu einer Vielzahl von Probengrößen, einschließlich Wafern bis zu 200 mm
- Hält bis zu 16 kupongroße Proben gleichzeitig
- Umfassende Auswahl an AFM-Modi für verschiedene Anwendungen
Park FX300
Entwickelt, um die Grenzen zwischen Forschung und industriellen Anwendungen zu überwinden, mit fortschrittlichen Funktionen für industrielle und Forschungs-AFM-Anwendungen
- Es ist in der Lage, bis zu 300 mm große Wafer zu messen und unterstützt eine breite Palette fortschrittlicher AFM-Anwendungen, einschließlich des optional erhältlichen nano-IR Technologie
- AFM-Controller der nächsten Generation
- Ermöglicht vordefinierte Koordinateneinstellungen für große Proben, wie 300-mm-Wafer oder Proben auf Multi-Sample-Chuck, zur automatischen Ausführung
- Hält bis zu 16 kupongroße Proben gleichzeitig
- Unterstützt sequenzielle Messungen, einschließlich Topografie und fortgeschrittener Modi, und rationalisiert die Arbeitsabläufe in Forschung und Industrie.
Park nano IR AFM
Integrierte IR-Spektroskopie im Nanobereich für präzise chemische Analysen durch die Integration der neuesten Infrarotspektroskopie - photoinduzierte Kraftmikroskopie (PiFM) - in die branchenführende Park AFM-Plattform. Vielseitige Probenmessungen von kleinen bis zu 300 mm großen Wafern
- Bietet eine räumliche Auflösung, die über die der herkömmlichen IR-Spektroskopie und anderer Techniken im Nanobereich hinausgeht, und gewährleistet gleichzeitig eine gleichbleibend hohe Auflösung und Messgenauigkeit während der gesamten Analyse.
- AFM-Controller der nächsten Generation
- Die Integration von Seitenbandtechniken ermöglicht die Erkennung von subtilen molekularen Bindungsinformationen mit tiefenempfindlichen Erkenntnissen durch Direktantrieb und bimodale Seitenband-Detektionsmethoden.
- Modernste PiFM-Technologie, eine berührungslose Detektionstechnik, die präzisere und konsistentere Ergebnisse gewährleistet und gleichzeitig empfindliche Proben schützt
- Hochauflösende IR-Spektren und IR-Absorptionsbilder auf der Nanoskala mit hervorragender Korrelation zur konventionellen FTIR-Spektroskopie (Fourier-Transform-Infrarot).
Spezialisierte AFMs
Park NX12
Ideal für Multi-User-Einrichtungen, die ein breites Spektrum von Forschungsdisziplinen abdecken. Die anpassungsfähige Plattform deckt eine Reihe von Anwendungen ab, vom nanomechanischen Mapping über die Raster-Ionenleitfähigkeitsmikroskopie bis hin zur inversen optischen Mikroskopie und elektrochemischen Forschung.
- Es umfasst ein pipettenbasiertes Scanningsystem für hochauflösende Rasterkonduktanzmikroskopie (SICM), elektrochemische Rastermikroskopie (SECM) und elektrochemische Rastermikroskopie an Zellen (SECCM)
- Geeignet für Standard-AFM, In-Liquid-SPM, optische und nano-optische Bildgebung.
- Perfekt für Lebendzelluntersuchungen mit AFM und SICM
- Ermöglicht die Untersuchung der elektrochemischen Eigenschaften
Park NX Hivac
ein Hochvakuum-AFM, das sich ideal für die präzise Analyse von Halbleiterfehlern und die Forschung an empfindlichen Materialien eignet. Das im Hochvakuum arbeitende NX Hivac ist der Schlüssel zu einer Reihe von Anwendungen, einschließlich der Bewertung der Dotierstoffkonzentration mittels Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)
- Mit intuitivem eigenem Hivac Manager und automatischer Vakuumkontrolle
- Ermöglicht materialwissenschaftliche Forschung, die hochpräzise und hochauflösende Messungen in einer von Sauerstoff und anderen Stoffen freien Vakuumumgebung erfordert.
- Step Scan Automation mit motorisiertem Tisch
- Geräuscharme XYZ-Positionssensoren
Schaefer SouthEast Europe srl - seit 2008 exklusiver regionaler Vertriebspartner für Park Systems AFMs (Griechenland, Rumänien, Slowenien, Kroatien, Südzypern, Bulgarien, Ungarn, Moldawien, Serbien).
Bietet fortgeschrittene Anwendungsunterstützung, Installation, Schulung und Unterstützung nach der Schulung durch erfahrene AFM-Spezialisten.
Setzen Sie sich mit unserer Produktspezialistin Claudia im rumänischen Büro in Verbindung: claudia.moldovan@schaefer-scientific.com
