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Rasterelektronenmikroskopie
Zeigen Sie Oberflächen in verblüffenden Details. Unsere SEM-Systeme liefern schnelle, hochauflösende Bilder für Analysen im Nanometerbereich in Forschung und Industrie.
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Was ist Rasterelektronenmikroskopie?
Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) nutzt einen fokussierten Elektronenstrahl und spezielle Detektoren, um Probenoberflächen abzutasten und hochauflösende, kontrastreiche Bilder von Morphologie, Zusammensetzung und Topografie im Nanometerbereich zu erzeugen, die Fortschritte in Forschung, Qualitätskontrolle und Innovation ermöglichen.
