Rastersondenmikroskopie

Mountains Technology Bildverarbeitungssoftware

Digital Surf
Rastersondenmikroskopie

Mountains Technology® wird von vielen führenden Geräteherstellern integriert und von Tausenden von Laboratorien auf der ganzen Welt verwendet, die an mikro- und nanotechnologischen Anwendungen arbeiten.

SOFTWARE ZUR OBERFLÄCHENANALYSE

Software zur Oberflächenanalyse basierend auf der Digital Surf's Mountains Technologie® ist ein Industriestandard, der mit fast allen Oberflächenmessgeräten kompatibel ist, einschließlich Profilometern, optischen Mikroskopen und Rastersondenmikroskopen.

Technologie der Berge® wird von vielen führenden Geräteherstellern integriert und von Tausenden von Laboratorien auf der ganzen Welt verwendet, die an mikro- und nanotechnologischen Anwendungen arbeiten.

Die Software ist hochgradig modular aufgebaut und erfüllt die mit spezifischen Instrumenten verbundenen Analyseanforderungen.

Technologie der Berge® Merkmale umfassen:

  • Intuitive Desktop-Publishing-Benutzerumgebung in sechs europäischen Sprachen, Japanisch, Chinesisch und Koreanisch.
  • Automatische Erstellung von Analyseberichten anhand von Vorlagen.
  • Analyse-Workflow für eine vollständige messtechnische Rückverfolgbarkeit, die es ermöglicht, jeden Schritt jederzeit fein abzustimmen.
  • Analyse von Mehrkanal-Messdaten von konfokalen Mikroskopen und SPM/AFMs.
  • Echtzeit-3D-Bildgebung auf der Grundlage der OpenGL-Technologie.
  • Umfassende analytische Studien (siehe ausgewählte Liste unten).
  • Die neuesten Normen, einschließlich ISO 25178 3D-Parameter und ISO 16610 erweiterte Filtertechniken.
  • Die neuesten Methoden umfassen die Analyse von Teiloberflächen (Regionen von Interesse) und die 4D-Analyse der Oberflächenentwicklung.

Analytische Studien

  • Zu den analytischen Studien (je nach Softwarekonfiguration) gehören:
  • 2D- und 3D-Parameter.
  • Rauhigkeit und Welligkeit.
  • Tragfähigkeit, Funktionsvolumen.
  • Ebenheit, Koplanarität.
  • Oberflächenunterschiede, Abnutzung.
  • Analyse von Motiven.
  • Körner, Partikel, Inseln.
  • Abmessungen, Stufenhöhen.
  • Form und Kontur.
  • Spektralanalyse (FFT).
  • Isotropie, Gerichtetheit, Periodizität.
  • Fraktale.
  • Analyse der Kraftkurve (SPM).
  • Kriterien für das Bestehen/Nichtbestehen.
  • Dynamische Statistik.
  • Oberflächenentwicklung in Bezug auf eine beliebige 4. Dimension. leo.

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