NC-AFM 2026 ist die 27. Konferenz einer Reihe, die sich der berührungslosen Rasterkraftmikroskopie widmet.
Die Konferenz behandelt experimentelle, theoretische und instrumentelle Entwicklungen in der Frequenzmodulations- und anderen dynamischen Betriebsarten der Rasterkraftmikroskopie mit besonderem Schwerpunkt auf hochauflösender Abbildung und Kraftabbildung.
Geltungsbereiche
Die Konferenz begrüßt Beiträge für mündliche und Posterpräsentationen zu den folgenden, jedoch nicht darauf beschränkten Themen:
- Neue Instrumentierung und Techniken
- Atomare Auflösungsbildgebung auf isolierenden Substraten, Halbleitern und Metallen
- Hochauflösende Abbildung von Molekülen, Clustern und biologischen Systemen
- Atome-Skala-Bildgebung und spektroskopische Messungen von 2D-Materialien und Quantenmaterialien
- Simultane Kraft- und Tunnelspektroskopie
- Theoretische Analyse von Kontrastmechanismen; Kräfte & Tunnelphänomene
- Nanometergroße Messungen von Ladungen, Austrittsarbeit und magnetischen Eigenschaften
- Bildgebung und Spektroskopie in flüssigen und umgebenden Umgebungen
- Seitenkraft und Reibung, Dämpfung und Energieableitung
- Maschinelles Lernen und Big Data
- Theorie und Simulationen
- Jede verwandte Wissenschaft
