Unsere Application Days bieten eine einzigartige Gelegenheit, moderne analytische Technologien durch Live-Demonstrationen, Fachvorträge und interaktive Workshops kennenzulernen.

Erfahren Sie mehr über praktische Anwendungen, Workflows und Innovationen in der Rasterelektronenmikroskopie, Materialanalyse sowie weiteren fortschrittlichen Analysetechniken führender Gerätehersteller.

Für wen ist diese Veranstaltung gedacht?

Für Einsteiger bis hin zu erfahrenen Experten aus Industrie, Forschung und Wissenschaft Fokus auf moderne analytische Technologien, Materialanalyse, Qualitätskontrolle und Laborlösungen Live-Demonstrationen, Fachvorträge und praxisnahe Workshops bieten direkte Einblicke Direkter Austausch mit Applikationsspezialisten und Branchenexperten

Wann findet die Veranstaltung statt?

23. September, von 10:00 bis 16:30 Uhr.

Tagesordnung

Teilnehmende können sich auf ein umfassendes Programm zu den neuesten Entwicklungen in der analytischen Technologie und deren praktischen Anwendungen freuen.

ZeitProgramme
10:00 – 10:15Walk-in
Ankunft und Registrierung
10:15 – 10:20Begrüßung
10:20 – 10:50Materialidentifikation im Feld und im Labor
RFA und OES im Vergleich (Sascha Reh)
10:50 – 11:20Rasterelektronenmikroskopie
Grundlagen, Anwendungen und Probenvorbereitung (Dr. Lars Jansen)
11:20 – 12:20Workshop-Sitzung 1 (Parallelsitzungen, freie Wahl)
A) Phenom REM: Von der Probe zum REM-Bild — optimale Vorbereitung für eine aussagekräftige Analyse
B) Bruker RFA und OES: Materialidentifikation und Materialanalyse
C) Bosch BOGS: Gasanalyse in Forschung und Industrie
12:20 – 13:20Mittagspause
Mittagessen sowie Zeit für Austausch und Networking
13:20 – 13:50REM-Probenpräparation mit Ar⁺-Ionen
Grundlagen und Anwendungsbeispiele (Dr.-Ing. Enrico Bruder, Technische Universität Darmstadt, Fachgebiet Physikalische Metallkunde)
13:50 – 14:00TechnoOrg Linda Ion Mills
Übersicht der Modelle und Konfigurationen (Dipl.-Phys. Martin Schaefer)
14:00 – 14:30Moderne Gasanalyse
Prozessüberwachung und Qualitätskontrolle mit Bosch BOGS (Frank Stieler)
14:30 – 15:30Workshop-Sitzung 2 (Parallelsitzungen, freie Wahl)
A) Phenom REM: Von der Probe zum REM-Bild — optimale Vorbereitung für eine aussagekräftige Analyse
B) Bruker RFA und OES: Materialidentifikation und Materialanalyse
C) Bosch BOGS: Gasanalyse in Forschung und Industrie
15:30Exkursion an die TU Darmstadt
Abfahrt zur Besichtigung der broad beam ion mill (ca. 30 Minuten Fahrzeit)
15:30 – 16:30Offenes Labor & Expertensitzungen
Individuelle Fachgespräche und Anwendungsberatung

Änderungen am Programm vorbehalten.

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Programm

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