NC-AFM 2026 ist die 27. einer Konferenzreihe, die der Non-Contact-Atomkraftmikroskopie gewidmet ist. Die Veranstaltung findet vom 3. bis 7. August 2026 in Innsbruck, Österreich, statt.

Die Konferenz behandelt experimentelle, theoretische und instrumentelle Entwicklungen in der Frequenzmodulations- und anderen dynamischen Betriebsarten der Rasterkraftmikroskopie mit besonderem Schwerpunkt auf hochauflösender Abbildung und Kraftabbildung.

Falls Sie an der NC-AFM 2026 teilnehmen, laden wir Sie herzlich ein, sich mit unseren Kollegen zu treffen:

  • Dr. Rajan Adhikari – Wissenschaftlicher Mitarbeiter, Schaefer Scientific
  • Dr. Steffen Porthun – Leitender Wissenschaftler, RHK Technology

Sie stehen während der gesamten Konferenz zur Verfügung, um aktuelle Entwicklungen in der UHV-Rasterkraftmikroskopie (SPM) zu besprechen, darunter:

  • Aktuelle Fortschritte in der Hardware- und Softwarearchitektur des RHK R10 SPM-Controllers
  • Ein Konferenzposter (klicken Sie hier, um das Poster herunterzuladen), das die fortschrittlichen Fähigkeiten des R10-Controllers hervorhebt
  • Aktualisierungen zu den PanScan Freedom II (5K, 7T) und Beetle AFM/STM Systemen

Unsere Kollegen freuen sich darauf, Principal Investigators (PIs), Wissenschaftler und Forscher in Innsbruck zu treffen, um Ideen auszutauschen und potenzielle Kooperationen zu besprechen.

Schaefer Scientific Poster – R10 Von Bits zu Bindungen – Eine fortschrittliche SPM-Plattform

Kostenloser Download

Fordern Sie Ihr Exemplar des Schaefer Scientific Posters an: R10 From Bits to Bonds–An Advanced SPM Platform

Anfrage hier

Geltungsbereiche

Die Konferenz begrüßt Beiträge für mündliche und Posterpräsentationen zu den folgenden, jedoch nicht darauf beschränkten Themen:

  • Neue Instrumentierung und Techniken
  • Atomare Auflösungsbildgebung auf isolierenden Substraten, Halbleitern und Metallen
  • Hochauflösende Abbildung von Molekülen, Clustern und biologischen Systemen
  • Atome-Skala-Bildgebung und spektroskopische Messungen von 2D-Materialien und Quantenmaterialien
  • Simultane Kraft- und Tunnelspektroskopie
  • Theoretische Analyse von Kontrastmechanismen; Kräfte & Tunnelphänomene
  • Nanometergroße Messungen von Ladungen, Austrittsarbeit und magnetischen Eigenschaften
  • Bildgebung und Spektroskopie in flüssigen und umgebenden Umgebungen
  • Seitenkraft und Reibung, Dämpfung und Energieableitung
  • Maschinelles Lernen und Big Data
  • Theorie und Simulationen
  • Jede verwandte Wissenschaft

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