NC-AFM 2026 est la 27ème conférence d'une série dédiée à la microscopie à force atomique sans contact. L'événement se tiendra du 3 au 7 août 2026, à Innsbruck, en Autriche.

La conférence couvre les développements expérimentaux, théoriques et instrumentaux en modulation de fréquence et autres modes dynamiques de microscopie à force de balayage, avec un accent particulier sur l'imagerie à haute résolution et la cartographie des forces.

Si vous assistez à la NC-AFM 2026, nous vous invitons à rencontrer nos collègues :

  • Dr. Rajan Adhikari – Scientifique résident, Schaefer Scientific
  • Dr Steffen Porthun – Chercheur principal, RHK Technology

Ils seront disponibles tout au long de la conférence pour discuter des développements récents en microscopie à sonde à balayage ultra-haute vide (UHV SPM), notamment :

  • Avancées récentes dans l'architecture matérielle et logicielle du contrôleur SPM RHK R10
  • Une affiche de conférence (cliquez ici pour télécharger l'affiche) présentant les capacités avancées du contrôleur R10
  • Mises à jour sur les systèmes PanScan freedom II (5K, 7T) et Beetle AFM/STM

Nos collègues se réjouissent de rencontrer les investigateurs principaux (IP), les scientifiques et les chercheurs à Innsbruck pour échanger des idées et discuter de futures collaborations.

Affiche Scientifique Schaefer - R10 Des bits aux liaisons – Une plateforme SPM avancée

Téléchargement gratuit

Demandez votre copie de l'affiche scientifique Schaefer : R10 From Bits to Bonds – Une plateforme SPM avancée

Requête ici

Portées

La conférence accueille les contributions pour des présentations orales et par affiche sur les sujets suivants (sans s'y limiter) :

  • Nouvelles instrumentations et techniques
  • Imagerie à résolution atomique sur substrats isolants, semi-conducteurs et métaux
  • Imagerie à haute résolution de molécules, d'amas et de systèmes biologiques
  • Imagerie et mesures spectroscopiques à l'échelle atomique des matériaux 2D et des matériaux quantiques
  • Spectroscopie simultanée de force et de tunnel
  • Analyse théorique des mécanismes de contraste ; forces et phénomènes de tunnel
  • Mesures à l'échelle nanométrique des charges, de la fonction de travail et des propriétés magnétiques
  • Imagerie et spectroscopie en environnements liquides et ambiants
  • Force latérale et frottement, amortissement et dissipation d'énergie
  • Apprentissage automatique et mégadonnées
  • Théorie et simulations
  • Toute science connexe

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