Révéler les surfaces dans les moindres détails. Nos systèmes SEM fournissent une imagerie rapide et à haute résolution pour l'analyse à l'échelle du nanomètre dans la recherche et l'industrie.
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La microscopie électronique à balayage (MEB) utilise un faisceau d'électrons focalisé et des détecteurs spécialisés pour balayer les surfaces des échantillons, générant ainsi des images à haute résolution et à fort contraste de la morphologie, de la composition et de la topographie à l'échelle du nanomètre, ce qui permet de faire progresser la recherche, le contrôle de la qualité et l'innovation.
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