NC-AFM 2026 est la 27e conférence d'une série consacrée à la microscopie à force atomique sans contact.
La conférence couvre les développements expérimentaux, théoriques et instrumentaux en modulation de fréquence et autres modes dynamiques de microscopie à force de balayage, avec un accent particulier sur l'imagerie à haute résolution et la cartographie des forces.
Portées
La conférence accueille les contributions pour des présentations orales et par affiche sur les sujets suivants (sans s'y limiter) :
- Nouvelles instrumentations et techniques
- Imagerie à résolution atomique sur substrats isolants, semi-conducteurs et métaux
- Imagerie à haute résolution de molécules, d'amas et de systèmes biologiques
- Imagerie et mesures spectroscopiques à l'échelle atomique des matériaux 2D et des matériaux quantiques
- Spectroscopie simultanée de force et de tunnel
- Analyse théorique des mécanismes de contraste ; forces et phénomènes de tunnel
- Mesures à l'échelle nanométrique des charges, de la fonction de travail et des propriétés magnétiques
- Imagerie et spectroscopie en environnements liquides et ambiants
- Force latérale et frottement, amortissement et dissipation d'énergie
- Apprentissage automatique et mégadonnées
- Théorie et simulations
- Toute science connexe
