Schaefer Scientific stellt das RHK PanScan Freedom II vor, ein kryogenfreies Rastersondenmikroskopiesystem (SPM) der nächsten Generation, das für die fortgeschrittene Forschung in den Bereichen Quantenmaterialien, Nanowissenschaften und Oberflächenwissenschaften entwickelt wurde.
Der PanScan Freedom II setzt einen neuen Standard für STM- und AFM-Experimente bei niedrigen Temperaturen, indem er den Betrieb bei extrem niedrigen Temperaturen, hohe Magnetfeldfähigkeit und außergewöhnliche optische Zugänglichkeit in einer einzigen kryogenen UHV-AFM/STM-Plattform kombiniert. Dieses innovative System ermöglicht es Forschern, eine experimentelle Leistung auf Heliumniveau zu erreichen, ohne die mit Flüssighelium-Kryostaten verbundenen betrieblichen Herausforderungen.
Kryogenfreie Niedertemperatur-SPM-Leistung
Das Herzstück des PanScan Freedom II ist eine hochstabile, kryogenfreie Tieftemperatur-SPM-Plattform, die Basistemperaturen von bis zu 5 K erreichen kann. Das System enthält einen kryogenfreien supraleitenden 7-Tesla-Magneten, der magnetfeldabhängige Experimente ohne Unterbrechungen durch Helium-Nachfüllungen ermöglicht.
Für Labore, die Quantenmaterialien, korrelierte Elektronensysteme und elektronische Phänomene im Nanobereich untersuchen, bietet dieser Ansatz die experimentelle Leistung herkömmlicher kryogener Systeme und vereinfacht gleichzeitig den Laborbetrieb erheblich.
Optischer Zugang für fortgeschrittene Experimente im Nanobereich
Ein entscheidendes Merkmal des PanScan Freedom II ist sein ungehinderter optischer Zugang innerhalb der Magnetumgebung. Dieses einzigartige Design ermöglicht es Forschern, die Rastersondenmikroskopie mit optischen Spektroskopietechniken zu kombinieren.
Mit dem optionalen hocheffizienten optischen System Lumin bietet die Plattform:
- Mehr als 70% Lichtsammelwirkung
- Optischer Breitbandzugang vom Fern-IR bis zum Tief-UV
- Kompatibilität mit Raman-Spektroskopie, Photolumineszenz (PL), STM-induzierter Lumineszenz und Kathodolumineszenz
Diese Fähigkeiten machen das System zu einem idealen Werkzeug für die Untersuchung von Licht-Materie-Wechselwirkungen und optisch aktiven Nanostrukturen auf der Nanoskala.
Flexible UHV AFM- und STM-Messungen
Der PanScan Freedom II unterstützt sowohl den Sondenscan- als auch den Probenscan-Modus, so dass Forscher das System an unterschiedliche experimentelle Anforderungen anpassen können. Das Sonden-Scanning ermöglicht ultrahochauflösende STM- und AFM-Messungen, während das optionale Proben-Scanning-Modul größere Scanbereiche ermöglicht und dabei die präzise Ausrichtung der Sonde und den optischen Zugang aufrechterhält.
Diese Vielseitigkeit macht das System zu einer leistungsstarken Lösung für UHV-Rastersondenmikroskopie-Experimente bei kryogenen Temperaturen.
Anwendungen
Der PanScan Freedom II wurde für fortgeschrittene Forschungsbereiche entwickelt:
- Quantenmaterialien und korrelierte Elektronensysteme
- STM- und AFM-Experimente bei niedriger Temperatur
- UHV Oberflächenwissenschaft
- Optisch aktive Nanostrukturen
- Studien zur Licht-Materie-Wechselwirkung
- Magnetfeldabhängige Spektroskopie auf der Nanoskala
Erfahren Sie mehr über UHV Cryogenic AFM/STM Systeme
Mehr Informationen über Kryogene UHV-AFM- und STM-Scanköpfe und -Systeme die bei Schaefer Scientific erhältlich sind, finden Sie hier: https://schaefer-scientific.com/product/uhv-cryogenic-afm-stm-scan-heads-and-systems
Forscher, die an einer Diskussion über experimentelle Anforderungen oder Systemkonfigurationen interessiert sind, können sich gerne an das Team von Schaefer Scientific wenden.
