Microcopie a sonde locale

Technologie Mountains Logiciel de traitement d'images

Digital Surf
Microcopie a sonde locale

Mountains Technology® est intégrée par de nombreux fabricants d'instruments de pointe et est utilisée par des milliers de laboratoires dans le monde entier qui travaillent sur des applications de micro et nanotechnologie.

LOGICIEL D'ANALYSE DE SURFACE

Logiciel d'analyse de surface basé sur la technologie Digital Surf's Mountains® est une norme industrielle compatible avec presque tous les instruments de métrologie des surfaces, y compris les profilomètres, les microscopes optiques et les microscopes à sonde à balayage.

Technologie des montagnes® est intégré par de nombreux fabricants d'instruments de premier plan et est utilisé par des milliers de laboratoires dans le monde entier qui travaillent sur des applications de micro et nanotechnologie.

Hautement modulaire, le logiciel répond aux exigences d'analyse associées à des instruments spécifiques.

Technologie des montagnes® Les caractéristiques comprennent

  • Environnement utilisateur intuitif de publication assistée par ordinateur en six langues européennes, en japonais, en chinois et en coréen.
  • Génération automatique de rapports d'analyse à l'aide de modèles.
  • Flux d'analyse pour une traçabilité métrologique complète, permettant d'affiner chaque étape à tout moment.
  • Analyse des données de mesure multicanaux provenant de microscopes confocaux et de SPM/AFM.
  • Imagerie 3D en temps réel basée sur la technologie OpenGL.
  • Études analytiques complètes (voir la liste ci-dessous).
  • Les normes les plus récentes, notamment les paramètres 3D ISO 25178 et les techniques de filtrage avancées ISO 16610.
  • Les méthodes les plus récentes comprennent l'analyse des sous-surfaces (régions d'intérêt) et l'analyse 4D de l'évolution de la surface.

Études analytiques

  • Les études analytiques (en fonction de la configuration du logiciel) comprennent :
  • Paramètres 2D et 3D.
  • Rugosité et ondulation.
  • Rapport de portance, volume fonctionnel.
  • Planéité, coplanarité.
  • Différences de surface, usure.
  • Analyse des motifs.
  • Grains, particules, îles.
  • Dimensions, hauteur des marches.
  • Forme et contour.
  • Analyse spectrale (FFT).
  • Isotropie, directionnalité, périodicité.
  • Fractales.
  • Analyse de la courbe de force (SPM).
  • Critères de réussite/échec.
  • Statistiques dynamiques.
  • Évolution de la surface par rapport à une quatrième dimension quelconque. leo.

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